外文翻译--自适应测试处理过程可变性中文(编辑修改稿)

外文翻译--自适应测试处理过程可变性中文(编辑修改稿)内容摘要：

试长度 (或停滞 ,故障覆盖率 )可以调节，以获得期望的缺陷程度 ,从而提高测试时间 或改进质量相同的测试时间。 其他早期的自适应方法是关于 IDDQ 测试时 ,很明显一个固定的阈值方法是无效的 ,因为大的变化看到在泄漏电流从模到模，而不是有一个固定的限制 ,一个程序或算法将定义 ,设定测试极限。 参数算法会在期间获取表征然后固定所有模具。 在测试执行时 ,实时响应数据收集的 DUT 测试仪将被用作输 入限制设置算法 ,计算了适当的限制在个人模基础上。 例子对于当前的比率 (IDDQ 测试的比例最大到最小电流 ),当前签名 (重要步骤排序的电流 )和 DeltaIDDQ(变化在电流从一个向量到下一个 )，相似的概念被应用于最小工作 电压 (minVDD) 测试 ,得到的 minVDD 预测值从测量相邻模。 这个值成为限制模在测试。 这些发展催生的概念离群值筛选和数据驱动测试。 除了允许变化 ,异常筛选改变了基础的测试 ,从是否部分良好，是否这个部分是不同的 ,导致部分通过所有测试规范 ,但拒绝如果他们之外预期的分配一个或多个参数测量。 上述例子说明在测试中使用连续变量 (参数 ),比简单的通过 /失败结果好。 模拟电路是特别适合这种方法 ,因为他们通常有大量的参数测试 ,这些参数进行连续值。 大量测量代表丰富的环境自适应测试 ,因为很有可能 ,并不是所有的需要测量的时间benner和描述了一个方法的 Boroffice改编 ,在这数据收集到一个固定的样本和过程能力指数 (肌酸磷酸激酶吗 )，再根据方程确定每个量。 自适应处理面临的挑战之一是模拟电路涉及到的大量测量在晶圆测试应选用，以达到对于异常值筛选的目的。 因为使用可能数以百计的外置屏幕是不可行 ,一个初始设置必须选择 ,但这可能不是最优的，需要调整。 Naha 等人所描述的使用输入的字段操作 (参见图 1 主要的文本 ),在客户返回相关所有的测量值。 这些测量有很好地与返回的部分相关，然后为未来的测试使用。 对于 限制设置 ,一旦组件的测量值确定 ,我们可以评估方程来生成结果 ,代表了预期值的测量。 这成为通过 /失败限制为特定的测量问题最后的元素在自适应测试过程这个决定。 考虑测量进行比较计算极限确定 (决定 )是否通过测试。 自适应测试阶段 不采用自适应适与传统的静态测试方法 ,我们只使用测试执行数据做出的通过 /失败的决定。 测试极限是独立设置 ,使用特征数据模型的形式和参数是固定的。 传统的固定阈值落入这分类。