spc统计过程控制培训讲义(ppt67)-质量工具(编辑修改稿)

spc统计过程控制培训讲义(ppt67)-质量工具(编辑修改稿)内容摘要：

图 是 性质上是否是均匀或不能按子组取样 —例如：化学槽液、批量油漆等。 否 子组均值是 否能很方便 地计算。 否 使用中 位数图 是 使用单值图XMR 是 接上页 子组容量是否大于或等于 9。 是 否 是否能方便地计算每个子组的 S值。 使用 X—R图 是 否 使用 X—R图 使用 X— s图 注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。 使用控制图的准备 建立适合于实施的环境 a 排除阻碍人员公正的因素 b 提供相应的资源 c 管理者支持 定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响 因素。 确定待控制的特性 应考虑到： 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 接上页 确定测量系统 a 规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b 确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 注： 应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的过程分析。 均值和极差图（ XR） 收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括 25件连续的产品，并周性期的抽取子组。 注： 应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 11 选择子组大小，频率和数据 111 子组大小 ：一般为 5件连续的产品，仅代表单一刀具 /冲头 /过程 流等。 （ 注： 数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 生产出来的零件，即一个单一的生产流。 ） 112 子组频率 ：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能 反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班 /操作人 员更换 /材料批次不同等原因引起。 对正在生产的产 品进行监测的子组频率可以是每班 2次，或一小时一 次等。 接上页 113 子组数： 子组越多，变差越有机会出现。 一般为 25组，首次使 用管制图选用 35 组数据，以便调整。 12 建立控制图及记录原始数据 （见下图） 1计算每个子组的均值（ X） 和极差 R 对每个子组计算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 • • • •为子组内的每个测量值。 n 表示子组 的样本容量 1选择控制图的刻度 41 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 42 刻度选择 ： 接上页 对于 X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（ X） 的最大值与最小值的差的 2倍，对于 R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（ R） 的 2倍。 注： 一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为 X 图刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值图上 1个刻度代表 ，则在极差图上 1个刻度代表 ） 1将均值和极差画到控制图上 51 X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 52 确保所画的 X 和 R点在纵向是对应的。 注： 对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“ 初始研究 ”字样。 2 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。 21 计算平均极差（ R） 及过程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子组数量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。 控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 接上页 注： 式中 A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。 其系数值 见下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ٭ ٭ ٭ ٭ ٭ A2。