lcd抗干扰(编辑修改稿)内容摘要:

,如果该仪表工作于工业生产过程 ,恶劣的环境对于液晶屏的工作更为不利 ,这就需要在设计中采用各种抗干扰措施 ,一般情况下采用下述措施即可 :(1)主板上与LCD模块接口的逻辑电路尽可能采用驱动能力强的芯片。 (2)LCD模块的接口中 ,在Vcc和Vss之间接一个 F的滤波电容。 (3)LCD模块的工作电流很小 ,为几个mA ,但其背光部分所需要的电流远大于其工作电流 ,最好将工作电源和背光电源分别走线。 (4)定期对液晶屏复位 (通过 /RES引脚 )可以保证液晶显示屏长期工作的稳定性。 如果不允 许液晶屏定期复位 ,可以检测LCD内部工作寄存器和显示RAM ,一旦发现LCD不正常 ,可以对LCD复位。 3 CMOS自锁现象及其抑制随着CMOS器件在电子设计领域中应用范围的日益广泛 ,对其性能可 靠 、抗干扰方面的要求也越来越高 ,而在特定环境下 ,其自身特有的自锁[5]现象严重影响了系统的正常工作 ,因此 ,如何有效抑制CMOS自锁现象的产生已成为使用CMOS器件设计电路中一个不可忽视的问题。 自锁现象自锁现象又称可控硅 (SCR )现象。 这是因为器件内部存在的pnpn结构形成了双结型寄生晶闸管 ,此寄生晶闸管的电路结 构与SCR的结构完全相同。 在测试和使用过程中 ,当有外来的电压或电流信号触发动作 ,CMOS器件的漏极Vdd和源极Vss之间就会出现很大的导通电流。 该电流一旦开始流动 ,即使除去外来触发信号也不会中断 ,只有关断电源或将电压降到某个值以下才能解除该电流 ,此时器件处于自锁状态。 理论和实验证明 ,CMOS电路的自锁效应是由于其内部存在寄生双极晶闸管所引起的。 产生自锁的原因是多方面的 ,具体分为外部原因和内部原因两类。 内部原因是因其内部双寄生晶体管的特殊构造引起的 ,其制造工艺在出厂后已确定 ,在此不做详述。 外部原因主要由以下几 方面构成 :(1)输入或输出端的电平下降到比Vss还低 ,或者上升到比Vdd还高。 (2)接到Vdd端的电源有异常。
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