近代自动化光学检测技术发展趋势(编辑修改稿)

近代自动化光学检测技术发展趋势(编辑修改稿)内容摘要：

pens, line/space violations, nicks, protrusions, pinholes, missing/excess features, etc. Inspection Methods: Design rules Reference parison Hybrid AOI設備規格需求 (PCB 2D Inspection) High Precision XY table High Resolution Camera Fast inspection 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council Example: Orbotech Spiron . Inspection + Verification • line width/space: 2~8 mils Scan time: 36 sec ( for 2 mils), 18 sec for 5 mils (18”x24”) 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council PCB Defect Classification PCB 底片 檢查機 PCB 內層板 檢查機 PCB 空板 檢 查 機 PCB 插件板 檢 查 機 PCB 錫高 檢 查 機 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council 核心技術 高速取像 量測與辨識 核心模組 產品 應用 B/W 高速取像 Color高速取像 大面積 影像合成 2D 量測校正 Model Reference Defect Inspection 3D 量測校正 Die to Die 比對檢測 Design Rule 比對檢測 Class 100 精密 取像機構與控制 PCB 底片 檢察機 PCB 內層板 檢察機 PCB軟 板 檢察機 LCD Color Filter 檢察機 LCD TFT/ITO 檢察機 BGA/Flip Chip 檢察機 CSP, Bump 檢察機 • 一般 PCB, 製程中 及成品檢測 • 先進製程 : BGA, Flip Chip, Bump製程中及成品檢測 •LCD: Color Filter, ITO 玻璃 , 背光模組製程中及成品檢測 機器視覺技術未來發展策略 針對先進製程之 PCB, TFT LCD, BGA, uBGA, Flip Chip 等開發共通之 核心技術及模組協助設備業者開發相關檢測設備 已開發 規劃中 本所 設備業者 PCB/LCD業者 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council TFTLCD截切面圗 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council 我國 LCD產業結構 劍度 勝華科技 和鑫光電 南亞塑膠 奇美電子 世界巔峰 精工美術 輔祥實業 先益電子 大億電子 元律科技 中強光電 玻璃基板 液晶 彩色濾光片 偏光膜 ITO玻璃 背光膜組 驅動 IC TN LCD TFT LCD STN LCD 台灣康寧 旭硝子 台灣默克 協臻光電 力特光電 汎納克 佳友化學 日東電工 正太科技 劍度 錸德科技 勝華科技 默克光電 聯電 合泰 華邦 茂矽 凌陽 勝華 光聯 碧悠 美組 華映 勝華 南亞 光聯 碧悠 國喬 凌巨 訊倉 全台晶像 華象 高雄日立 台灣愛普生 友達 奇美 華映 廣輝 瀚宇彩晶 統寶 群創 元太 模組廠商 達威 久正 所羅門 夏普電子 泉毅 晶彩 眾福 上靖 三富 終日新等十多家 影視產品 消費產品 資訊產品 通訊產品 儀表產品 攜帶電視 VCD player 投影機 LCD TV 家電產品 手錶 計算機 筆記型電腦 LCD Monitor 數位相機 PDA 行動電話 汽車導航 呼叫器 視訊電話 工業儀表 醫療儀表 飛行儀表 上游材料 中游面板模組 下游應用產業 資料來源： PIDA / 中科院二所整理 生 產 製 造 設 備 生 產 製 造 設 備 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council LCD Process and AOI 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council LCD檢測設備與分類 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council 薄膜電晶體面板缺陷示意 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council 薄膜電晶體製程之缺陷 白光干涉儀檢測 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council C/F的瑕疵分類 De fec tsMac ro d ef e ctsu n ev en n ess of colo r IRO MURA)stain (S I M I)m i sa lig n m en t of c o lo r c el ls( IRO ZURE)Mi cro d ef ect sb lack m a r tix h o leco lo r ar ea sh o rt ag e in f i lte r ce llp art ic le20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council Color Filter之缺陷 IRMURA (色彩不均勻 ) SIMI基板上有污點 IROZURE錯誤對位 微觀缺陷 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National Science Council PCbased 2axis motion controller Programmable lighting High speed scanning CCD camera * 6 取像控制 PC PCbased Vision Engine (Multi camera+Multi Processor) Processing speed 132M pixels/sec Color Filter內層版檢查機架構圖 工研院機械所 20xx 國科會自動化學門研究發展規劃書 Automation Division National。