mt99xx测试机的维修报告_毕业设计(编辑修改稿)

mt99xx测试机的维修报告_毕业设计(编辑修改稿)内容摘要：

的体积。 Device Power supply 主要提供芯片 VDD/VCC。 Reference Voltage Supply 提供给芯片参考电压 (VIL/VIH， VOH/VOL)。 PMU 是进行 DC 参数量测的单元。 在测试机台中还有 Pattern Memory 是用于存储测试向量的。 一般的测试向量分为并行向量和线性向量。 并行向量就是一根 Device Pin 对应向量的一列的向量结构；而线性向量是为提高测试的覆盖度，在芯片的设计过程中加入某些CELL 就可用串行向量来测试某些用并行向量无法测试的项目。 在测试机台的 AC 部分由 Timeset Memory、 Formatting Memory 和 Masking Memory 组成，其主要作用是将测试向量中的输入部分根据测试程序的要求产生相应的输入波形，同时也根据测试程序的要求在相应的时间点去比较输出波形。 测试机台的另一重要部分是测试头，它是测试机台与芯片之间的通道，其主要由 PE Card 组成 (PE Card 的结构见图 (2)。 图 PE Card的结构 由上图可见 PE Card 由输入、输出和动态负载三部分组成，其中输入部分是给芯片提供 VIL/VIH 的电平；输出部分是将芯片的输出电平与 VOH/VOL进行比较；图 (2)的动态负载分为两部分，一种是通过加载 IOL/IOH 电流将输出电压与设定的VOH/VOL 比较；另一种是将输出电流与设定的 IHIGH/ILOW 进行比较。 比较电流的功能一般只有在高档机台中才会有。 另外在 测试头的附近有 Test Box/Bin Box，它包括 Start 和 Reset 等按键，并且能够显示芯片 Pass/Fail 的结果。 江苏信息职业技术学院毕业设计报告 测试原理 — 功能测试简介 功能性测试 功能性测试主要是验证逻辑功能。 在主程序的功能测试部分中包括测试向量和相关的测试命令。 其中测试向量在输入时向芯片提供逻辑状态，在输出时比较芯片的逻辑状态。 在程序中的测试命令是用来控制硬件产生相应的电压、波形和时序。 在功能测试过程中，测试系统以周期为单位将输入数据提供给芯片并比较输出数据。 如果输出数据与默认的逻辑状态 (测试向量的值 )、电压和波形不同，则我们认为该功能测试不通过。 测试向量 测试向量是芯片根据设计要求而所因具有输入输出值的集合。 一般用 0/1 来表示输入低 /高电平， L/H/Z 来表示输出低 /高 /高阻状态， X 表示即无输入又无输出。 并且我们可根据不同的测试系统使用不同的字符来代表不同的含义。 测试向量按在测试程序中出现的位置顺序存储在向量存储单元中，测试向量的一行表示一个测试周期。 向量存储单元中的输入数据经过机台的转换变成相应的输入波形，经过 PE Cards 传给芯片。 芯片的输出波形通过 PE Cards 传给机台，再由机台 转变成向量，与原先存储在向量存储单元中的输出数据进行比较。 测试向量一般由设计者将仿真时的数据经过适当的转换得到，不同的机台对向量的格式有不同的要求。 测试向量的总长度不可超过测试机台向量存储单元的深度。 以下是一段测试向量 (SC212)： INPUT I/O OUTPUT 100100 1111100100101 HHHHLLLLHLLL 100100 1001100111011 LLLLLLLLLHHH 100100 0001010101001 HLHLHLHHHLHL 100100 1001011111000 LLHHLLLHHHLH 100100 1111101010101 LLLLHLHLHLHL 100100 HHHHLLHLHL HHHLHHLHHLHH 100100 HHHLLLHLHL HHLHLHLHLHL H 100110 ZZZZZZZZZZZ LHLHLHLHLHLH 100110 LLHLLHLHLH HHHLHLHHLHHL . don’t care 0 drive 0 1 drive 1 H pare 1 MT99XX 测试机的维修报告 9 L pare 0 X don39。 t care Z pare tristate 创建输入信号 输入信号波形需要将测试系统中许多部分的数据综合起来产生，其实在测试头上看到的波形是由向量数据、 Edge Placement Timing、基本信号波形和 VIL/VIH的值组合而成。 如下图所示： 图 输入信号波形 所有的输入引脚都要有相应的输入波形。 时钟信号的波形一般用 RZ 或 RO 来营造，像 CS(Chip Select)和 READ 这种高电平有效的信号用 RZ 来营造，而像CS/(Chip Select Bar)和 OE/(Output Enable Bar)这种低电平有效的信号用 RO来营造；数据信号一般数据不定而且有 Setup Time 和 Hold Time 的要求所以用SBC 来营造。 其他信号一般用 NRZ 和 DNRZ 来营造。 输出信号测试 输出比较实际是由 Test vector data(期望芯片输出的逻辑状态 )、 Output strobe timing(决定在测试周期中何时采样 )、 VOL/VOH(期望芯片输出的电压值 )、IOL/IOH(期望芯片输出的电流值 )四部分组成。 如下图所示： 江苏信息职业技术学院毕业设计报告 图 输出信号波形 在输出比较时，测试机台根据 Strobe timing 在相应的时间读取输出引脚上的电压值。 如果期望输出低电平那么芯片的输出必须比设定的 VOL 低，如果期望输出高电平那么芯片的输出必须比设定的 VOH高。 并且我们可利用 Output Masking来选择哪些需要进行输出比较哪些不需要，由此可形成灵活的输出比较。 第三章 MT99XX 测试机简介 设备总的信息概括： MT99X8 为 Multitest 公司在 1999 年设计开发的高速分选半导体设备，设备主要分为四个模块： Base Unit Loader, Base Unit Handler,Base Unit Unloader和 HMI System。 MT99XX 测试机的维修报告 11 图 MT99的概貌 ① Operator ② System ③ Base Unit Handler ④ Loader ⑤ Unloader 主界面的介绍 江苏信息职业技术学院毕业设计报告 图 MT99的主界面 设备基本的结构和功能 : 设备基于重力和空气加速的条件下输送器件，对于不同封装形式的产品，设备适配了不同的 Kits。 设备包含三个机械部分 Base Unit Loader, Base Unit Handler,Base Unit Unloader。 Loader 部分将器件从管子输送到 Handler， Handler 对器件进行温度，测试， Handler 根据测试结果将器件分选到 Unloader。 温度范围： MT99X8 设备的最低配置配有常高温（ 25℃ 155℃），可以升级配置到三温Ambient， Hot， Cold（ AHC 常高低温 55℃ 155℃ ）。 导向原理 MT99x8 设备会根据不同的封装形式给予不同形式的器件导向。 根据不同的导向原理我们能够找到这些导向之间的差别，从而能更好的操作设备。 具体导向原理如下： ① Lead Rail Guiding，如下图所示，也就是靠引脚来导向，依靠此种导向方法的导向具有摩擦小，速度快等特点。 适用于轻小型并且引脚和塑封体之间有足够的空间器件。 典型的封装形式有 MSOP， TSSOP。 因为导向的轨道像刀锋一样精细，所以操作的时候一定要多加小心，切不可用蛮力处理 JAM。 关机键 此处能看出各测试位的总的情况，比如是否被关闭，是否在测试进行中，测得结果等，并且可以看出设备的测试位运行模式， Bin的 定义模式。 Unloader部分的几跟轨道被定义 Bin的情况和各个轨道的管子中器件的数量 截屏键 语言切换键 清自动下料部料管 更换到 Run Screen2键 帮助键 设备的 System， Loader， Handler， Unloader的运行的整体状况，是否已经初始化完成，是否已经准备好可用，是否正常生产，是否被停止，是否报错，是否已经接近空料状态。 可以根据此处来观察温度是否打开，设置的温度值，并且可以看出允 许的误差温度值，最小零度，最大六度。 显示各测试位的良率情况 清除并重置良率值 设备的运行模式，正常生产时应为 normal模式。 MT99XX 测试机的维修报告 13 图 导轨导向 ② Body Guiding，如下图所示，依靠塑封体导向，适用于无引脚或者。