数控技术检测2第五章(编辑修改稿)

数控技术检测2第五章(编辑修改稿)内容摘要：

Y Y Y8输出给或门 H2，得反内脉冲。 当正向运动时， H1 有脉冲信号输出， H2则保持低平；而反向运动时， H2有脉冲信 号输出， H1则保持低电平。 这样，当栅距为 l/50mm(20μm)时： 四倍额后每个脉冲当员为 5μm，即分辨率提高了 4倍。 2）细分技术（倍频技术）  光栅输出给数控装置的信号有两种， 方波信号和正弦波号。 对方波信号，可进行二倍频和四倍频处理，但最高为四倍频；  对连续变化的正弦波信号，可采用 相位跟踪细分， 进一步提高分辨率。 其原理是 将输出信号与相对相位基难信号比较，当相位差超过一定门槛时，移相脉冲门输出移相脉冲，同时使相对相位基准信号跟踪测量信号变化。 这样每一移相脉冲使相对相依基准移相 360／ n度，即可实现 n倍细分，有八倍频、十倍频、二十倍频或更高。 光栅读数头 光栅读数头是位置信号的检出装置，是光栅与电子线路转换的部件。 由光源、指示光栅、光学系统及光电元件等组成。 有以下几种形式： 1 分光读数头 分光读数头 即细光栅的莫尔条纹因光线通过线纹衍射后，产生干涉结果。 光栅法向以 α角入射的光线，在标尺光栅 G1分为 0级和 1级衍射光后，指示光栅 G2再次衍射分为 4种组合；相互干涉形成莫尔条纹。 这种光栅莫尔条纹反差较强，但栅距小。 直射读数头 2 直射读数头 这种读数头用于 25125线 /mm的玻璃透射光栅系统。 光源 Q发出的光经透镜 L变成平行光，照射在光栅 G1和 G2上，把 G2形成的莫尔条纹聚集在焦平面上的光电管 P上。 54反射读数头 3 反射读数头 （如图 54所示 ） 这种读数头用于 25~50线 /mm以下的反射光栅系统。 平行光以与光栅法平面成 β入射角照射在光栅 G1反射面上，反射光在 G2上形成莫尔条纹经 L2聚焦在焦平面的光电管 P上。 4 等倍透镜系统 （如图 55所示） 光栅栅距很小，两光栅间距也很小，如果 不能保证标尺光栅和指示光栅之间的安装间距 ，就不能得到正确的信号，因此在实际使用中常采用等倍透镜系统，它是在指示光栅和标尺光栅之间装上等倍透镜 L3和 L4，这样 G1的象以同样大小投影在 G2上形成莫尔条纹，满足安装要求。 图 55 等倍透镜系统 光栅使用特点 ● 由于光栅的刻线可以制作十分精确，同时莫尔条纹对刻线局部误差有均化作用，因此，栅距误差对测量精度影响较小。 ● 在检测过程中，标尺光栅与指示光栅不直接接触，没有磨损，因而精度可以长期保持。 ● 光线刻线要求很精确，两光栅之间的间隙及倾斜角都要求保持不变，制造调试比较困难。 光学系统易受外界的影响产生误差，同时又有灰尘、油、冷却液等污物的侵入，易使光学系统变质。 磁尺位置检测装置 组成 ： 磁性标尺、磁头和检测电路 组成。 原理 ：利用 录磁原理 将一定周期变化的方波、正弦波或脉冲电信号，用录磁磁头记录在磁性标尺的磁膜上，作为测量的基准。 检测时，用拾磁磁头将磁性标尺上的磁信号转换成电信号，经过检测电路处理后，用以计量磁头相对磁尺之间的位移量。 分类 ：直线和圆形磁尺，分别用于 直线 和 角度 位移的测量。 特点 ： 1）制造简单，安装调整方便； 2）对使用环境的条件要求较低； 3）对周围磁场的抗干扰能力较强； 4）在油污、粉尘较多的地方使用有好的稳定性。 伺服系统数字显示尺磁检测电路磁磁尺位置检测装置 磁性标尺 磁性标尺是在。