欣兴电子(印刷电路板pcb)统计制程管制spc培训教材(编辑修改稿)

欣兴电子(印刷电路板pcb)统计制程管制spc培训教材(编辑修改稿)内容摘要：

，稱為管制上限 (Upper Control Limit, UCL) 及管制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來表示製程或品質變異的容許範圍或均勻性。 管制圖可用來判斷品質變異之顯著性，以測知製程是否在正常狀態。 World Class Quality CONFIDENTIAL 38 Unimicron 管制圖基本原理 UCL LCL CL 時間軸 數據軸 管制圖與一般的統計圖不同，因其不僅能將數值以曲線表示出來，以觀其變異趨勢，且能顯示變異是屬於機遇性或是非機遇性，以指示某種現象是否正常，而採取適當之措施。 管制圖同時可展示時間順序的資料。 World Class Quality CONFIDENTIAL 39 Unimicron 計量值管制圖 (Variable Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 40 Unimicron 管制圖種類  管制圖依蒐集數據的型態可分為： 1) 解析用管制圖 – 目的在於 研究製程能力 同時 解析製程以 進行製程管制之準備。 2) 管制用管制圖 – 偵測 可歸屬原因 是否發生同時 追查 並迅速消除 此原因。 1) 計量值管制圖 (Variable Control Chart) 2) 計數值管制圖 (Attribute Control Chart)  依用途目的可分為： World Class Quality CONFIDENTIAL 41 Unimicron 管制圖繪製流程 決定管制特性 安定狀態 ? 決定抽樣計劃 蒐集數據 並分析製程能力 繪製解析用管制圖 探討、並去除 可歸屬原因 NO 執行管制用管制圖 YES World Class Quality CONFIDENTIAL 42 Unimicron 計量值管制圖的種類  計量值管制圖依抽樣方式或數據特性的不同可分為： 1) 平均值與全距管制圖 (XR Chart) 2) 平均值與標準差管制圖 (XS Chart) 3) 中位值與全距管制圖 (XR Chart) 4) 個別值與移動全距管制圖 (XRm Chart) _ _ ~ 以下將以平均值與全距管制圖為例，說明管制圖作業的詳細步驟： World Class Quality CONFIDENTIAL 43 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 平均值與全距管制圖作業細則  適用情況： 平均值與全距管制圖適用於小樣本 ( n 10)的抽樣方式。 而當樣本大小超過 10時，則建議使用平均值與標準差管制圖。  管制圖建立步驟： 先建立解析用管制圖，待確定管制界限後，再建立管制用管制圖 1) 建立解析用管制圖 a. 選定管制項目 – 在製程中選擇對產品品質特性有重要影響之要因或重要品質特性作為管制項目。 World Class Quality CONFIDENTIAL 44 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 b. 蒐集數據 – 蒐集最近之數據 120個以上，分析其製程表現 (是否合乎規格 )，若製程表現指標 (Ppk)太差，應重新調整製程條件以改善現況。 c. 決定樣本分組方式 – 在確認製程表現合乎規格要求後，便開始設計如何抽取樣本數據 (paneltopanel, lottolot, fixed time period…. ) 及樣本大小 (Sample Size)。 d. 蒐集並分析樣本組數據 – 將分組的數據輸入系統，累積20~30組數據。 在蒐集的過程中有異常的數據應捨棄。 World Class Quality CONFIDENTIAL 45 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 e. 計算每組平均值 (X)及全距 (R) f. 計算總平均值 (X)及平均全距 (R)。 g. 計算平均值管制圖的中心線及上下管制界限 (查表法 ) _ _ CL = X UCL = X + A2R LCL = X A2R _ _ _ _ _ 註： A2之值請參照前述之係數表 _ World Class Quality CONFIDENTIAL 46 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 CL = R UCL = D4R LCL = D3R _ _ _ i. 點圖 – 將每組平均值點入平均值管制圖、每組全距點入全距管制圖。 j. 管制界限之探討 如所有之點全部在管制界限內且係隨機散佈著，將可以用作建立製程管制用管制圖。 h. 計算全距管制圖的中心線及上下管制界限。 World Class Quality CONFIDENTIAL 47 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 如有點超出管制界限 ,則應調查原因，並加以消除。 然後去除這些點之數據 ,再用剩下來之數據，重新計算管制界限。 雖有點超出管制界限，但原因不明，或已查明原因，而無法消除時，這些點將無頇除去。 重新計算管制界限後，仍有點超出管制界限時，無頇除去。 World Class Quality CONFIDENTIAL 48 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 k. 繪製直方圖 – 將所有數據作成次數分配，如不呈常態分配，則宜應用層別，合理分組等方法，檢討原數據，直到數據呈常態分配。 l. 與規格比較 如製程分佈範圍在規格界限內，且中心在規格中心附近，可認為製程能力能滿足規格要求。 在這種情況下，原有的管制界限則可以延長使用。 如製程分佈範圍比規格界限之寬度為窄，但中心離開規格中心且偏向一方，致使產品上限或下限超出規格界限，此時宜調整製程平均值，使與規格中心一致(或接近）後，方可延長作為管制用管制圖之界限。 World Class Quality CONFIDENTIAL 49 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 如製程分佈範圍比規格界限之寬度為寬時，表示製程能力不足。 對原數據應按原料別、機械別、時間別、操作人員別等加以層別，分別檢討其分配之情況，找出變異較大之處，應用工程與技術知識加以改善。 如果目前情況下，由於技術或經濟之限制無法改善製程能力，則應檢討規格界限是否可以放寬，以獲得較經濟之生產，如無法改善製程能力又無法改變規格時，則應行全數檢查 (選剔 )。 如無規格界限時，可直接延長使用，而由最後成品之品質特性 (水準 )，是否能滿足成品規格來檢討。 World Class Quality CONFIDENTIAL 50 Unimicron 計量值管制圖作業步驟 2) 建立管制用管制圖 經解析用管制圖對製程解析後，確定製程能力能滿足規格需求，且將來係按此種同樣條件繼續生產時，可以固定管制界限開始管制製程。 建立管制用管制圖之程序如下： a. 選定層別資訊 – 將料號、批號、機台別、班別、操作者等資料填入管制圖。 b. 持續蒐集數據並點圖 c. 管制界限之重新計算 – 管制工作持續一段時間以後，製程可能發生變化，此時再用原來之管制界限來判斷製程就不適合，應該再蒐集資料，重新計算管制界限，以符合製程之現況。 World Class Quality CONFIDENTIAL 51 Unimicron 計量值管制圖實例 範例：電鍍線的管制圖製作 依分組之資料計算出以下各項目值： 總平均值 X = 平均全距 R = _ _ _ _ _ _ UCL = X + A2R = + * = LCL = X A2R = * = 平均值管制圖的上下管制界限： 全距管制圖的上下管制界限： UCL = D4R = * = LCL = D3R = 0 * = 0 _ _ World Class Quality CONFIDENTIAL 52 Unimicron 計量值管制圖實例 World Class Quality CONFIDENTIAL 53 Unimicron 管制圖的檢定規則 (Test Rules for Control Chart) World Class Quality CONFIDENTIAL 54 Unimicron 管制圖的判讀  管制圖判定基本法則：正常管制圖上的點，必頇符合「隨意分散」 (Random Fluctuation)與「常態分佈」 (Normal Distribution) 的原則，所以至少要滿足下面幾點要求： 1) 中心線上下的點數要大約相等 (各佔 40%~60%)。 2) 大部份的點 (約 70%)集中在中心線，但不能所有的點都靠近中心線。 3) 僅有少數點 (約 5%)靠近管制界限。 4) 任何連續多點不可形成向上或向下的「趨勢」 (Trend)。 World Class Quality CONFIDENTIAL 55 Unimicron 管制圖的判讀 1) 最近一點落在管制界限外。 2) 在管制界限內的點出現特殊圖樣 (Pattern)。 但是下列法則若有一成立，則判斷製程異常： 在統計製程管制中的「製程異常」指的是目前的製程。