智能仪器可测试性设计内容摘要：
T • BIT简介 • 常规 BIT技术 • 智能 BIT技术 BIT简介 • BIT的由来 传统的测试主要是利用外部的测试仪器（ ETE）对被测设备进行测试， ATE是 ETE的自动化产物。 由于 ATE费用高、种类多、操作复杂、人员培训困难，而且只能离线检测，随着复杂系统维修性要求的提高，迫切需要复杂系统本身具备检测、隔离故障的能力以缩短维修时间。 所以， BIT在测试研究当中占据了越来越重要的地位，成为维修性、测试性领域的重要研究内容。 在测试性研究中， BIT技术应用范围越来越广，正发挥着越来越重要的作用。 BIT简介 • BIT的定义 定义 1： BIT是指系统、设备内部提供的检 测、隔离故障的自动测试能力。 定义 2： BIT的含义是：系统主装备不用外 部测试设备就能完成对系统、分系 统或设备的功能检查、故障诊断与 隔离以及性能测试，它是联机检测 技术的新发展。 常规 BIT技术 • 通用 BIT技术 BIT通用设计性设计准则 BIT测试点的选择与配置 常规 BIT技术 • 数字 BIT技术 板内 ROM式 BIT 微处理器 BIT 微诊断法 内置逻辑块观察法 边界扫描 BIT 常规 BIT技术 • 板内 ROM式 BIT 板内只读存储器 (on— boardROM)实现的机 内测试是一种由硬件和固件实现的非并行 式 BIT。阅读剩余 0%
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