基于nino芯片的tot读出电子学系统研究内容摘要：
Tech. of China 基 于 NINO的测试板结构框图 实物图 T H S 4 5 0 9N I N O时 间 测 量信 号 源 单 端 输 入8 通 道全 差 分 信 号8 通 道L V D S 输 出N I N O 放 大 甄 别 测 试 板T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9快电子学实验室 Fast Electronics Lab 中国科学技术大学 University of Sci.amp。 Tech. of China 测试工具： ROHDEamp。 SCHWARZ SMA 100A信号源 Tektronix的任意 /函数波形发生器 AFG3252 LeCroy 104MXi示波器（ 1GHz带宽） HPTDC测量板 万用表，单端及差分电缆若干 快电子学实验室 Fast Electronics Lab 中国科学技术大学 University of Sci.amp。 Tech. of China 噪声： NINO芯片输出信号波形 噪声带入抖动直方图统计分析 测试得到的 NINO芯片带入的抖动在 5ps左右。阅读剩余 0%
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