ic测试针测、成测内容摘要：
在將未能符合預期規格之不良品過濾挑出以避免流到客戶端，並視不同客戶應用之需要可將產品依測試結果進一步分類，作為產品等級評價的依據。 I C 測 試 藉由測試廠回報之測試資料，可提供給前段相關製程乃至 IC設計人員做進一步確認分析，對於問題之釐清、流程之改善以及 IC製造之整體良率提升將有莫大之幫助。 測試規格 通常會依據： 業界制定之通用準則協定 客戶對產品應用之規格要求 由基本電子電路理論所反應出正常元件 該有之特性 IC測試 測試則分成兩個階段 晶圓測試 (Wafer Test) 針對晶圓上的每個晶粒進行針測，使 IC 在封裝前。阅读剩余 0%
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