671spc教程-统计制程管制(编辑修改稿)

671spc教程-统计制程管制(编辑修改稿)内容摘要：

X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 52 确保所画的 X 和 R点在纵向是对应的。 注： 对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“ 初始研究 ”字样。 2 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。 21 计算平均极差（ R）及过程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子组数量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。 控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 接上页 注： 式中 A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。 其系数值 见下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ٭ ٭ ٭ ٭ ٭ A2 注： 对于样本容量小于 7的情况， LCLR可能技术上为一个负值。 在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为 6的子组， 6个“同样的”测量结果是可能成立的。 23 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线 • 平均极差和过程均值用画成实线。 • 各控制限画成虚线。 • 对各条线标上记号（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） • 注：在初始研究阶段，应注明试验控制限。 3 过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。 （即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。 注 1： R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程 的特殊原因。 注 2： 因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差， 因此，首先应分析 R图。 31 分析极差图上的数据点 311 超出控制限的点 a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要 证据 ， 应分析。 b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 控制限计算错误或描点时描错 零件间的变化性或分布的宽度已增大 (即变坏 ） 测量系统变化 （ 如：不同的检验员或量具 ） c 有一点位于控制限之下 ， 说明存在下列情况的一种或多种 控制限或描点时描错 分布的宽度变小 （ 变好 ） 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） 不受控制的过程的极差（有超过控制限的点） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的过程的极差 312 链 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势： • 连续 7点在平均值一侧； • 连续 7点连续上升或下降； a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： a1 输出值的分布宽度增加 ， 原因可能是无规律的 （ 例如：设备工作不正常或固定松动 ） 或是由于过程中的某要素变化 （ 如使用新 的不一致的原材料 ） ， 这些问题都是常见的问题 ， 需要纠正。 a2 测量系统的改变 （ 如新的检验人或新的量具 )。 b 低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部： b1 输出值的分布宽度减小 ， 好状态。 b2 测量系统的改好。 注 1： 当子组数（ n）变得更小（ 5或更小）时，出现低于 R 的链的可能 性增加，则 8点或更多点组成的链才能表明过程变差减小。 注 2： 标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸 到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的过程的极差 （存在高于和低于极差均值的两种链） 不受控制的过程的极差（存在长的上升链） 313 明显的非随机图形 a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。 b 一般情况，各点与 R 的距离：大约 2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约 1/3的点落在其外的 2/3的区域。 C 如果显著多余 2/3以上的描点落在离 R 很近之处（对于 25子组，如果超过 90%的点落在控制限的 1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： c1 控制限或描点已计算错描错。 c2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多 个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组 轴中，每组抽一根来测取数据）。 c3 数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。 d 如果显著少余 2/3以上的描点落在离 R很近之处（对于 25子组，如果有 40%的点落在控制限的 1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查： d1 控制限或描点计算错或描错。 d2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有 明显不同的变化性的过程流的测量值（如：输入材料批次混 淆）。 注： 如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。 32 识别并标注所有特殊原因（极差图） a 对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作 分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。 33 重新计算控制限（极差图） a 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已 被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控 时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因 影响的子组，然后重新计算新的平均极差 R和控制限，并画下来， 使所有点均处于受控状态。 b 由于出现特殊原因而从 R 图中去掉的子组，也应从 X图中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新计算均值的试验控制限， X 177。 A2R。 注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”。 而是排除受已知的特殊原因影响的点。 并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。 34 分析均值图上的数据点 341 超出控制限的点： a 一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多： a1 控制限或描点时描错 a2 过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的 事件）或是一种趋势的一部分。 a3 测量系统发生变化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的过程的均值（有一点超过控制限） 受控制的过程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 链 有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势： 连续 7点在平均值一侧或 7点连续上升或下降 a 与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者。 a1 过程均值已改变 a2 测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度） 注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到 链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。 不受控制的过程的均值（长的上升链） 不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链） UCL X LCL UCL X LCL 343 明显的非随机图形 a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个 控制限内 ， 或子组内数据间有规律的关系等。 b 一般情况 ， 各点与 X的距离：大约 2/3的描点应落在控制限的 中间 1/3的区域内 ， 大约 1/3的点落在其外的 2/3的区域； 1/20的 点应落在控制限较近之处 （ 位于外 1/3的区域 ）。 c 如果显著多余 2/3以上的描点落在离 R很近之处 （ 对于 25子组 ， 如果超过 90%的点落在控制限的 1/3区域 ） ， 则应对下列情况的 一种或更多进行调查： c1 控制限或描点计算错描错 c2 过程或取样方法被分层 ， 每个子组系统化包含了从两个或 多个具有完全不 同的过程均值的过程流的测量值 （ 如：从 几组轴中 ， 每组抽一根来测取数据。 c3 数据已经过编辑 (极差和均值相差太远的几个子组更改删除） d 如果显著少余 2/3以上的描点落在离 R很近之处（对于 25子组， 如 果有 40%的点落在控制限的 1/3区域），则应对下列情况的一 种或更多进行调查： d1 控制限或描点计算错描错。 d2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不 同的过程流的测量值（这可能是由于对可调整的过程进行 过度 控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波 动的响应）。 注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的过程（点离过程均值太近） 均值失控的过程（点离控制限太近） 35 识别并标注所有特殊原因（均值图） a 对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过 程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态， 防止再发生。 b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。 36 重新计算控制限（均值图） 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现 并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程 均值 X 和控制限，使所有点均处于受控状态。 37 为了继续进行控制延长控制限 a 当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控 制限，将其作为将来的一段时期的控制限。 b 当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率） 应调整中心限和控制限。 方法如下： b 1 估计过程的标准偏差（用 σˆ 表示），用 现有的 子组容 量计算： σˆ = R/d2 式中 R为子组极差的均值（在极差受控期间）， d2 为随样本 容量变化的常数，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照。