第八章锻件与铸件超声检测内容摘要:

可以在试块上或锻件上调节。 一般 B1位于屏幕水平80%位置。  单直探头基准灵敏度的确定 当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区长度,且探测面与底面平行时,原则上可采用底波计算法确定基准灵敏度。 对由于几何形状所限,不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时,可直接采用 CSⅠ 标准试块确定基准灵敏度。  双晶直探头基准灵敏度的确定 使用 CS Ⅱ 试块,依次测试一组不同检测距离的 φ3平底孔(至少三个)。 调节衰减器,作出双晶直探头的距离 波幅曲线,并以此作为基准灵敏度。  扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离处的 φ2mm平底孔当量直径。  计算缺陷当量时,若材质衰减系数超过4dB/m,应考虑修正。  当被检部位厚度 x≥3N时,且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时,常用底波调节法。  大平底:△ =20lgPB/Pf=20lg[2λx/(πDf2)]  空心圆柱体: △ =20lgPB/Pf=20lg[2λx/(πDf2)]177。 10lg(d/D)  缺陷位置和大小的测定  缺陷位置的测定  缺陷大小的测定: 被检缺陷的深度大于或等于探头的三倍近场区时,采用 AVG曲线及计算法确定缺陷当量。 对于三倍近场区内的缺陷,可采用单直探头或双晶直探头的距离 波幅曲线来确定缺陷当量。 也可采用其他等效方法来确定。 当量计算法  平底面或实心圆柱体:  空心圆柱体: )(2lg10lg20lg20 222xxxD xPP BfBfffBBf Dd )(2lg20lg20 222xxxD xPP BfBfffBBf 外 +内-  大 平底回波声压:△ =20lg(x2/x1)  平底孔回波声压:△ =40lg(Df1x2/Df2x1)  平底孔与大平底回波声压: △ =20lg[2λx/(πDf2)]  例:有一厚度 T的平底锻件,探伤中在 T1处发现一缺陷,比扫查灵敏度高△ dB,要求评级。  步骤 1:计算扫查灵敏度 (Φ2), △ 1=20lg[λT/(2π)]  步骤 2: △ =40lg(Df1x2/Df2x1) =40lg(Df1T/2T1)  实际操作时:  将底面回波调到 6。
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