过程能力分析与控制讲座(编辑修改稿)

过程能力分析与控制讲座(编辑修改稿)内容摘要：

围。 T B （ b） T B （ c） b） B虽在 T范围内，平均值偏离公差中心，有超过可能，应设法使平均值的偏离量减少。 T B T B （ e） （ d） （ e） B大大地小于 T，分布过于集中，应注意检查和考虑加工的经济性。 （ d） B超过 T的范围，两边已出现废品，应设法缩小分布范围。 若公差限定不合理，则可重新审定公差。 注： ，不可能绝对与标准正态分布图形完全相同；应通过不断剔除特殊原因和减少普通原因造成的变差，使图形趋于正态分布。 三、 过程能力 指数的计算 一 计量值 1 双侧规格界限 （ 1） 无偏 （ 2） 有偏 2 单侧规格界限 （ 1） 仅给出规格上限 TU （ 2） 仅给出规格上限 TL 二 记数值 1 记件值 2 记点值 计量值双侧规格界限 Cpk 双侧规格界限是指既具有规格上限 (TU)要求，又有规格下限 (TL)要求的情况 —— 规格中心 Tm与分布中心 重合 ● 计算公式： ● 工序不合格品率 p 的估计： ①直接根据规格上、下限 TU、 TL 以及工序分布的数字特征，估 计 和 S 进行计算 ②根据工序能力指数 Cp计算。 由式 : 因此有： xSTBTCp 6STCp 6xpmLpmUpSCxTTTSCxTTTSCT32326 )]()([1 S xTS xTp LU  ΦΦ)]3()3([1 S xSCxS xSCxp pp  ΦΦ)]3()3([1 pp CC  ΦΦ)3(2)]3()3(1[1 ppp CCC  ΦΦΦP1 P2 TL TU Tm f（ x） σ μ T 解： ∵ ∴ )(2)3(26ΦΦ ppmCpSTCTx0 0 6 3 9 0 3 1 9 )7 2 (2  Φ案例 2 无偏 Cpk的计算 根据某工序加工零件的测试数据计算： =,S=，规格要求为。 试求该工序的工序能力指数及不良品率。 x —— 规格中心 Tm与分布中心 不重合时 ● 计算公式： 绝对偏移量 ： (图中曲线 1) 偏移系数 ： 工序能力指数： 或： 当 k≥１ ，即 e≥T/2时， 规定 Cpk=0 (图中，曲线 2) ● 不合格品率估计： ① ②采用“用 Cp和 k值估计不合格品率” xxTe m )(21)(212LULUTTxTTTekSTkCkC ppk 6)1()1( S eTST eTSTC pk 6 2626 )]()([1 S xTS xTp LU f（ x） 有偏时工序能力指数与不合格品率 e 1 2 e μ TL TU P1 P2 Tm T 案例 3 有偏 Cpk的计算 测试一批零件外径尺寸的平均值 =， S=，规格要求为 ，试计算工序能力指数并估计不合格品率。 解：由题意： 计算 Cpk x0 1 0 xT。