数字电子技术实验大纲内容摘要:
电路的使用规则以及实验电路的布线方法 2 必做 验证 专业基础 双踪示波器( VP5220D/C)、 函数发生器( SP1641B)、 直流稳压电源、万用表 数字实验室 03 CMOS电路的逻辑功能与测试 CMOS 与非门逻辑电路的功能测试。 CMOS 或非门逻辑电路的功能测试 或非门电路作控制门的测试 2 必做 验证 专业基础 双踪示波器、数字电路实验箱、集成电路、( CD4001 CD4011) 数字实验室 04 集成三态门、OC 门 TTL集电极开路与非门 74LS03负载RL 的确定 三态门逻辑功能的测试 三态门电路的应用。 2 必做 验证 专业基础 数字电路实箱、 74LS03 数字实验室 05 常用组合逻辑功能器件测试1 ( 1) 8 线 3 线优先编码器 74LS148的逻辑功能测试。 ( 2)四位二进制全加器 74LS283的功能测试 4。数字电子技术实验大纲
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N124 Z33 N126 G1 Z3 F1000 N128 Y33925 F300 N130 G0 Z13 N132 Z33 N134 Z53 N136 X22733 Y38375 N138 Z33 N140 G1 Z3 F1000 N142 Y38375 F300 N144 G0 Z13 N146 Z33 N148 Z53 N150 X186 Y41546 N152 Z33 N154 G1
其输出也为 8421BCD 码。 本实验采 用两片 74LS191 来产生 60 进制和 24 进制 , 秒个位计数单元为10进制计数器, 本实验将 Q3 和 Q1 通过与非门 74LS00 接到 PL 来实现 , 秒十位计数单元为6进制计数器, 本实验将 Q1 和 Q2 通过与非门 74LS00 接到 PL 来实现 , 分个位和分十位计数单元电路结构分别与秒个位和秒十位计数单元完全相同, 如图
发生器、“时、分、秒”计数器、译码器及显示器、校时电路、整点报时电路等组成。 秒信号产生器是整个系统的时基信号,它直接决定计时系统的精度,一般用555构成的振荡器加分频器来实现。 将标准秒脉冲信号送入“秒计数器”,该计数器采用60进制计数器,每累计60秒发出一个“分脉冲”信号,该信号将作为“分计数器”的时钟脉冲。 “分计数器”也采用60进制计数器,每累计60分,发出一个“时脉冲”信号
.……… ..…… ……… .……… ..……… ..( 24) 8 电路调试 …………………………………………………………………… ..(25) 振荡电路调试及实验结果分析 … …………………… ...……………… ……… .… ..( 25) 计数电路调试及实验结果分析 … … ……………………………… ..…………… ...( 25) 系统联调及其结果分析 … …………………… .…………
度尺寸可直接用 游标卡尺进行测量。 一些位置度可在三坐标检测仪进行测量,由于在数控机床上加工,机床本身的精度就很高,且该零件的精度要求均不高,故加工后的零件可以忽略此部分的测量,只需要对其首件进行测量即可,操作者在装夹时一定要注意,避免应装夹失误而造成其位置度超差。 工序 10的切削用量及基本工时 该工序为铣结合面、钻 2Ф 5 孔、 2Ф 8 孔、Ф 18H7 孔
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