企业无损检测通用工艺文件

企业无损检测通用工艺文件内容摘要：

陷评定区内同时存在多种缺陷时 ， 应进行综合评级。 对各类缺陷分别评定 级别 ， 取质量级别最低的级别作为综合评级的级别 ； 当各类缺陷的级别相同时 ， 则 降低一级作为综合评级的级别。 11. 检测记录、报告和资料存档 记录 评片记录由 Ⅱ 级人员 按 “工艺卡 ”在 “评片原始记录 ” 格式上填写 ， 检测部位图由 Ⅱ 级 人员按实际焊缝位置绘制，复评由 Ⅱ 级以上人员进行。 报告 按 “焊缝射线检测报告 ” 的格式 ， 由 1I级人员出具 ， 经无损检测质控人员审核 、 盖章。 资料存档 完工后的检测资料交资料室保管，至少保存 7年。 图 ， 透照厚度比 K= 图 ， 透 照厚度比 K= 超 声 检 测 一般要求 主题内容以适用范围 引用标准 检测人员 仪器探头 检测的一般方法 校准与复合 试块 报告和存档 承压设备 钢板超声检测 承压设备用钢锻件超声检测 承压设备用钢螺栓坯件的超声检测 钢制承压设备对接焊接接头超声检测 承压设备管子、压力管道环向对接接头超声检测 钢制承压设备管子、压力管道环向对接接头超声检测 铝及铝合金制承压设备管子、压力管道环向对接接头超声检测 承压设备用无缝钢管超声波检测 1 一般要求 主题内容与适用范围 本规程规定了检测人员资格、仪器探头试块、检测范围、方法和质量分级等。 本规程采用 A型脉冲反射式超声仪器对 钢板、锻件、螺柱和焊缝进行检测。 本规程按 JB/T47302020编制，符合《容规》和 GB150的要求。 检测工艺卡是规程的补充，由 Ⅱ 级人员按要求编制，其检测参数规定的更具体。 引用标准 JB／ T47302020 《承压设备无损检测》 GB1502020 《钢制压力容器》 JB／ T79131995 《超声波检测用钢制对比试块的制作与校验万法》 JB／ T92141999 《 A型脉冲反射式超声探伤系统工怍性能测试万法》 JB/T100611999 《 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用条件》 JB／ T100621999 《超声探伤用探头性能测试方法》 JB/T100631999 《超声探伤用 l号标准试块技术条件》 检测人员 检测人员必须经过培训，按《特种设备 无损检测人员考核与监督管理规则》的要求，取得相应的资格证书的人员担任。 检测有 Ⅱ 级人员进行， I级人员作检测的辅助工作。 检测人员应每年一次体检，其矫正视力不低于 5． 0。 仪器、探头和试块 探伤仪 现使用南通友联 PUXTV1仪器。 采用 A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为 ，仪器至少在荧光屏满刻度的 80%范围内呈线性显示。 探伤仪应具备有 80dB以上的连续可调 衰减器，步进级每档不大于 2dB，其精度为任意相邻 12dB的误差在177。 ldB以内，最 大累计误差不超过 ldB。 水平线性误差不大于 1%，垂直线性误差不大于 5%。 探 头 晶片面积一般不应大于 500mm2，且任一边长原则上不大于 25㎜。 单斜探头声束轴线水平偏离角不应 大于 2。 主声束垂直方向不应有明显的双峰。 超声波探伤仪和探头的系统性能 到达所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于 lOdB。 仪器和直探头组合 的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）：利于频率为 5MHz的探头，宽度不大于 10mm；对于频率为 ，宽度不大于 15mm。 直探头的远场 分辨力应不小于 30dB，斜探头的远场分辨力应不小于 6dB。 超声波检测一般方法 检测准备 承压设备在制造、 安装中，超声检测的时机及抽检率的选择等应按相关法规、标 准及有关技术文件的规定执行。 所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。 焊缝的表面质量应经外观检查合格。 所有影响超声检测的锈蚀、飞溅 和污物等都 应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。 表面的不规则状态不得 影响检测结 果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。 扫查覆盖率 为确保检测时超声声束能扫查 到工件的整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于 探头直径的 15%。 探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过 150mm∕ s。 当采用自动报警装置扫查时，不受此限。 扫查灵敏度 扫查灵敏度通常不得低于基准灵敏度。 耦合剂 应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水 等。 灵敏度补偿 a)耦合补偿。 在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行补偿。 b)衰减补偿。 在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的 检测灵敏度下降和缺陷 定 量误差进行补偿。 c)曲面补偿。 对检测面是曲面的工件，应采取曲率半径与工件相同或相近的试块， 通过对比试验进行曲率补偿。 系统校准和复核 一般要求 系统校准应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束 垂直对准反射体的反射面， 以 获得稳定和最大的反射信号。 仪器校准 每隔 3个月至少对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测 定，测定方弦按JB/T10061的规定。 新购探头测定 新购探头应有探头性能参数说明书，新探头使用前应进行 前沿距离 .K值、主声束偏 离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。 检测前仪器和探头系统测定 使用仪器一斜探头系统，检测前应测定前沿距离、 K值和主声束偏离 ，调节或 复 核扫描 量程和扫描灵敏度。 使用仪器一直探头系统，检测前应测定始脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力 ，调节 或复核扫描量程和扫查灵敏度。 检测过程中仪器和探头系统的复核 遇有下述情况应对系统进行复核： a)校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时； b)检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化； c)连续工作 4h以上时： d)工作结束时。 检测结束前仪器和探头系统的复核 a)每 次检测结束前，应对扫描量程进行复核。 如果任意一 点在扫描线上的偏移超过 扫描线读数的 10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检 测部 位进行复检。 b)每次检测结束前，应对扫查灵敏度进行复核。 一般对距 离一波幅曲线的校核不应 少于 3点。 如曲线上任何一点 幅度下降 2dB，则应对上一次复核以来所有的检测 部位进行复检；如幅度上升 2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。 校准、复核的有关注意事项 校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开 关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。 试块 l 标准试块 标准试块 a)钢板用标准试块： CBⅠ 、 CBⅡ ； b)锻件用标准试块： CSⅠ 、 CSⅡ ； c)焊接接头用标准试块： CSKⅠ A、 CSKⅡ A、 CSKⅢ A。 标准试块应采用与被检工件声学性 能相同或近似的材料制成，该材料用直头检测时，不得有大于或等于 216。 2平底孔当量直径的缺陷。 标准试块尺寸精度应符合要求，并经 计量部门检定合格。 标准试块的其他制造要求应符台 JB/T10063和 JB/T7913的规定。 对比试块 对比试块是指用于检测校准的试块。 对比试块的外形尺寸应能代表 被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相 对应。 如果涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度应 由其最大厚度确定。 对比试块反射体的形状、尺寸和数量应符台本规程的规定。 报告和存档 按“超声波探伤”报告表样由 Ⅱ 级人员填写， 经无损检测质控人员审核。 锻件、钢板 报告交委托人存档，压力容器焊缝检测报告与容器资料一起交资料室存档不少于7年。 2 承压设备用钢板超声检测和质量分级 范围 本条适用于板厚为 650mm的碳素钢 、 低合金钢制承压设备用板材的超声检测和质量分级。 奥氏体钢板材的超声检测也可参照本条。 探头的选用 探头选用应按表 l的规定进行。 表 1 承压设备 用板材超声检测探头选用 板厚， mm 采用探头 公称频率， MHz 探头晶片尺寸 620 双晶直探头 5 晶片面积不小 150mm2 2040 单晶直探头 5 216。 14mm216。 20mm 4050 单晶直探头 216。 20mm216。 25mm 标准试块 用双晶 直探头检测厚度不大于 20mm的钢板时，采用如图 1所示的 CB I标准试块。 用单直探头检测厚度大于 20mm的钢板时 ， CBⅡ标准试块应符合图 2和表 2的规定。 试块厚度应与被检钢板厚度相近。 表 2 CBⅡ 标 准试块 试块编号 被检钢板厚度 检测面到平底孔的距离 s 试块厚度 T CBⅡ 1 2040 15 ≥ 20 CBⅡ 2 4050 30 ≥ 40 基准灵敏度 板厚不大于 20mm时，用 CBⅠ 试块将工 件等厚部位第一次底渡高度调整到满刻度的 50％．再提高 lOdB作为基准灵敏度。 板厚大干 20mm时，应将 CBⅡ 试块 216。 5平底孔第 一次反射渡高调整到满刻度的50%作 为基准灵敏度。 检测方法 检测面 可选钢板的任一轧制表面进行检测。 若检测人员认为需要或设计上有要求时 ， 也可选钢板的上、下两轧制表面分别进 行检测。 耦合方式 耦合方式可采用直接接触法。 扫查方式 a)探头沿垂直于钢板压延方向，间距不大于 100mm的平行线进行扫 查。 在钢板剖口 预 定线两侧各 50mm（当板厚超过 l00mm时．以板厚的一半为准）内应作 100%扫查 ，扫查示意图见图 3。 b)根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。 缺陷的测定与记录 在检测过程中，发现下列三种情况之一即作为缺陷： a)缺陷 第一次反射波 (Fl)波高大于或等于满刻度的 50%，即 Fl≥ 50%。 b)当底面第一次反射波高 (B1)波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波 (Fl)波高与底面第一次反射波 (B1)波高之比大于或等于 50%，即 Bl100%，而 Fl/Bl≥ 50%。 c)底面第一次反射波 (Bl)波高低于满刻度的 50%，即 Bl 50%。 缺陷的边界范围或指示长度的测定方法 a)检出缺陷后，应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的范围。 b)用双晶直探头 确定缺陷的边界范围或指示长度时 ， 探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直，并使缺陷波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高与底面第一次反射波波高之比为 50%。 此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度 ， 探头中心即为缺陷的边界点。 两种方法测得的结果以较严重者为准。 c)用单直探头确定缺陷的边界范围或指示长度时 ， 移动探头使缺陷第一次反射波波 高下降到基准灵敏度条件 下荧光屏满刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高与底 面第一次反射波波高之比为 50%。 此时 ， 探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度 ， 探 头中心即为的边界点。 两种方法测得的结果以较为严重者为准。 17 d)确定 c中缺陷的 边界范围或指示长度时，移动探头﹙单直探头或双晶直探 头﹚使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的 50%。 此时探头中心 移动距离即为 缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。 e﹚当板厚较薄，确需采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，基准灵敏度应 以相应的第二次反射波来校准。 缺陷的评定方法 单个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。 若单个缺陷的指示长度小。