jet-300windows版中文操作手冊

jet-300windows版中文操作手冊内容摘要：

PF 2 3 1 Q1 30% 90% N 2 3 1 控制閘極 (gate)電壓直到夾止 , 即可量測出來 . G 1 2 S D 3 N通道增強型 MOSFET G 1 2 S D 3 G 1 2 S D 3 15 263 光耦合晶體測試方法 (MODE N)： 光耦合晶體的測試與 NPN Type電晶體的測試模式相同，其 A、 B和 G G2的設定如上圖；以下為程式樣本。 項目 零件編號 位置 標準值 實際值 +% % 模 檔 延遲 平均 A B G1 G2… XXX PT1 XX 3V 30 30 N 0 0 0 3 4 2 1 G2 1G1 234AB 16 27 電 壓測試的方法 : 271 低壓測試 (Low Voltage Test) (MODE LV) : 低壓功能測試是允許你供應某一定電壓到 零件兩端，同時測量零件兩端的電壓，如測電容反向、 Zener二極體、或 IC都可使用此法。 假設使用此法量 Zener Diode ZD2 (陽極為 Pin 5，陰極為 Pin 6) 項目 零件編號 位置 標準值 實際值 +% % 模 檔 延遲 平均 A B G1 G2… XXX ZD2 XX 6 9V 10 10 LV 0 0 0 6 5 0 0 V S R SZ D 26VBAADCDAC 說明： 當實際值 (ACTval)欄裡的單位是 V，而標準值 (STDval)欄裡不是 0時，則DAC Buffer會送實際值 (Actval)裡的值 (VS = 9V)；而量測 A、 B兩端的標準值應為標準值 (STDval)，即 6V。 ※ 模式 (MD)欄裏是 LV時，電壓最大可送 10V。 272 高壓測試 (High Voltage Test) (MODE HV) : 一般的低壓測試電壓最高是 10V ，如採高壓測試則可用高達 50V的電壓來做功能測試，其程 式設定如下，除了在模式 (MD)欄裏寫入 HV外餘皆與低壓測試同。 項目 零件編號 位置 標準值 實際值 +% % 模 檔 延遲 平均 A B G1 G2… XXX ZD3 XX 24 27V 10 10 HV 0 7 0 9 4 17 28 IC Clamping Diode測試 : IC Clamping Diode 的測試方法是以 IC的每一支腳對該 IC的 VCC PIN為兩端點，或以 IC 的每一支腳對該 IC 的 GND PIN為兩端點、或以 IC相鄰的兩支腳為兩端點，來做低壓功能測試 (如 27節 )。 其測試程式的產生是用自動學習的方法。 在製作程式時，使用軟體 IC腳位編輯(IC’s Pin Edit)功能，把 IC的每一個腳位相對應的探針號碼鍵入，並指定那一個 PIN是 VCC PIN和 GND PIN。 啟動 IC Clamping Diode 學習的步驟如下： 選擇編輯 (Edit)功能下的零件編輯 (Component)指令，進入零件編輯 (Component Editor)畫面，再按「 Alt」 +「 I」，會出現： 如果只想配合 IC SCAN 學習 (避免某 IC測試腳重復學習測試 )則按「 Y」，否則按「 ENTER」或「 N」 ，畫面會如下 : 如果產生的程式是要接在現有程式的最後一個項目 (Step)則按「 ENTER」 ,否則就 輸入起始項目 (Step)號碼，再按「 ENTER」畫面會出現： 18 如需更改測試電壓則輸入新的電壓值 ，否則按「 ENTER」 ，系統就會自動學習，自動產生 IC Clamping Diode 的測試程式。 以下為 IC Clamping Diode的測試程式產生的例子（假設 U1第 14腳為 PIN 1第 16腳 (VCC PIN)為 PIN 20 ） (STEP DEVICE LC STDval ACTval +% % MD RG TM AVG A B G1 G2…) 項目 零件編號 位置 標準值 實際值 +% % 模 檔 延遲 平均 A B G1 G2… XXX U1: XX 20 20 LV 0 0 0 15 20 0 0 19 29 電源穩壓 IC之輸出電壓量測方法 首先需要外加電源 , 機器的修改方法如附圖 A. a. 治具追加 一個有 Molex 7 pin插 座之轉換板 , 此插座將連接到 JET IC SCAN 板的電源輸出接頭 , 其配置如下 : Pin 1 (輸出為 5V)接至 NET NAME 為 VCC 的探針 (預設為 2 號探針 ) Pin 2 (為電源輸出的 GND)接至 NET NAME 為 GND 的探針 (預設為 5 號探針 ) Pin 7(輸出為 ) 接至 NET NAME 為 VCC3 的探針 (預設為 10 號探針 ) 參考附圖 B 及下列程式 , 便可測試其電源穩壓 IC 之輸出電壓 VCC2, VTT. 項目 零件編 號 位置 標準值 實際值 +% % 模 檔 延遲 A B 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F G e 1 VCC A1 5 0V 10 10 HV 0 10 2 5 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 2 VCC3 A1 0V 10 10 HV 0 0 10 5 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 3 +12V A1 12V 0V 10 10 HV 0 0 15 5 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 4 A1 0V 5 5 HV 0 0 80 5 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 5 VTT A1 0V 5 5 HV 0 0 99 5 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 6 END A1 1mA 00 00 CM 0 10 2 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 7 END A1 1mA 00 00 CM 0 10 2 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 8 END A1 0V 10 00 HV 0 10 2 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 9 END A1 1mA 00 00 CM 0 10 10 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 10 END A1 0V 10 00 HV 0 10 10 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 11 END A1 1mA 00 00 CM 0 10 15 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 12 END A1 0V 10 00 HV 0 10 15 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 假設項目 8, 10 和 12 未放電至 以下 , 須增加項目 7, 9 和 11 的 TM 值 , 繼續量測直到項目 8, 10 和 12 的標準值至 以下 . 20 圖 A JP JP 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 JP JP9 JP9 CON7 CON7 PIN 3 PIN 4 V V+ SWITCHING POWER OUT 5V JET IC SCAN BOARD 1 2 3 4 5 6 7 8 HEADER 8 HEADER 8 JP11 PIN 1= +5V PIN 2= GND PIN 5= 5V PIN 6=+12V PIN 7=+ Grey Brown Green 1 2 3 4 5 6 7 8 1 2 3 4 5 6 7 8 HEADER 8 Fixture 1 2 3 4 5 6 7 A 21 圖 B Probe 2 LT1085 VCC 1 3 ADJ R1 R2 Probe 80 2 Probe 5 Probe 10 VCC 3 1 LT1085 VIN VO 3 ADJ R1 R2 Probe 99 VTT 2 22 210 短 /斷路 測試的方法 (Open/Short Test) 2101 學習短路表 (Learning Short Pin Group Table) : 短 /斷路 ( Open/Short) 的測試資料可由學習一個良品的電路板而得。 當學習時，電腦會測量任意兩個測試點 (Test point)之間的阻值，然後產生一個短路表 (Short Pin Group Table)。 如下： SPG/1 : 15,20,17,85 SPG/2 : 23,51,62 SPG/3 : 36,41 SPG/4 : 38,92 上面的短路表，顯示 Pin 15,20,17,85四個測試點 (Test Point)是短路在一起的群組， Pin 23,51,62則是另一個群組……等等。 學習時，任意兩點間的阻值小於 20歐姆 (ohm)即被判定兩點間為短路，否則為開路。 2102 短 /斷路 測試 : 短 /斷路 (Open/Short)測試是根據上述短路表 (Short Pin Group Table)的資料來做測試；先做短路測試 (Short Test)再做斷路測試 (Open Test)。 A. 斷路測試 (Open Test)是測試在同一短路群 (Short Pin Group)裡的每一測試點間(Test point)是否短路 (Short)在一起。 如果沒有，即表示有斷路 (Open)的 發生。 判別斷路 (Open)的基準是 80歐姆 (ohm) ；也 就是說任意二點間的阻值如果 80歐姆(ohm)，則被判定為斷路錯誤 (Open Fail)。 B. 短路測試 (short Test)是測試原不屬於任一短路群 (short Pin Group)的任意兩點和各短路群間，是否有短路 (Short)的發生。 判別短路 (Short)的基準是 10歐姆 (ohm)；也就是說，如果任意兩點間的阻值是 10歐姆 (ohm)，則被判。