基于单片机的ttl集成电路芯片测试仪的设计

基于单片机的ttl集成电路芯片测试仪的设计内容摘要：

if(output1!=LS20[i][2]||output2!=LS20[i][3]) { ledR = 0。 //点亮红 led time=0。 break。 } if(output1==LS20[i][2]amp。 amp。 output2==LS20[i][3]) { time++。 } } if(time==16) { ledG = 0。 //点亮绿 led display(name[k])。 //显示芯片型号 time=0。 15 } } if(k==4) { for(i=0。 i4。 i++) { input1=LS86[i][0]。 input2=LS86[i][1]。 delayms(500)。 output1=input1amp。 0x3f。 output2=input2amp。 0x3f。 if(output1!=LS86[i][2]||output2!=LS86[i][3]) { ledR = 0。 time=0。 break。 } if(output1==LS86[i][2]amp。 amp。 output2==LS86[i][3]) { time++。 } if(time==4) { ledG = 0。 display(name[k])。 time=0。 } } } } } 74HC573 控制数码管显示程序 每个数码对应一个位选端。 单片机可以控制锁存器的锁存端，进而控制锁存器的 16 数据输出，这种分时控制的方法便可方便地控制任意数码管显示任意数字。 在这里我们把数码管的显示部分写成了一个带参数的函数，以便以后调用，另外我们把这个要显示的参数分离成 4个一位数。 void display(uint namex)//数码管显示子程序 { uchar qian,bai,shi,ge。 qian = namex/1000。 //千位，把一个 4位数分离后分别送数码管显示 bai = namex%1000/100。 //百位 shi = namex%100/10。 //十位 ge = namex%10。 //个位 dula1 = 1。 P0 = table[qian]。 //送段选数据 dula1 = 0。 P0 = 0xff。 //送位选数据前关闭所有显示 delayms(500)。 //延时 500ms dula2 = 1。 P0 = table[bai]。 dula2 = 0。 P0 = 0xff。 delayms(500)。 dula3 = 1。 P0 = table[shi]。 dula3 = 0。 P0 = 0xff。 delayms(500)。 dula4 = 1。 P0 = table[ge]。 dula4 = 0。 P0 = 0xff。 delayms(500)。 17 P0 = 0xff。 wela = 1。 P0 = 0xc0。 wela =0。 while(1) { if(key1==0) break。 if(key2==0) break。 } } 信号检测程序 在信号检测部分， 我们 只 对指定的 74 系列门电路芯片进行功能测试（完好 /损坏），如 74LS00、 74LS0 74LS 74LS86。 并且能够自动检测 指定的几种 74 系列门电路的型号。 程序设计中 需要考虑到芯片的引脚识别 ， 芯片型号的检测程序 如下： unsigned char detect(void) //14 脚芯片识别函数 { unsigned char i,output1,output2。 //7474 的检测 P1=0xff。 //初始化测试端口 P2=0xff。 input1=0x3b。 input2=0x39。 delayms(100)。 input1=0x3f。 //上升沿 input2=0x3d。 delayms(100)。 output1=input1amp。 0x3f。 output2=input2amp。 0x3f。 if(output1==0x1famp。 amp。 output2==0x2d) { return (4)。 } //7400/04/20/86 的自动检测 18 P1=0xff。 //初始化测试端口 P2=0xff。 for(i=0。 iM。 i++) { input1=IC[i][0]。 input2=IC[i][1]。 delayms(500)。 output1=input1amp。 0x3f。 //将芯片逻辑结果 input1 通过 amp。 0x3f 取出 output2=input2amp。 0x3f。 if(output1==IC[i][2]amp。 amp。 output2==IC[i][3]) { input1=IC[i][4]。 input2=IC[i][5]。 delayms(500)。 output1=input1amp。 0x3f。 output2=input2amp。 0x3f。 if(output1==IC[i][6]amp。 amp。 output2==IC[i][7]) { return(i)。 } } } } 19 4 系统 仿真 测试 系统设计完成后 ，将 74LS00 芯片放入测试插槽中进行测试， 仿真 测试结果所示： （ 1） 当按下自动检测键 key3 后，测试结果如图 10所示。 图 10 按下 自动检测键 后 的 测试结果 （ 2） 当按下复位键 key2 后，测试结果如下图 11 所示。 20 图 11 按下复位键后的测试结果 （ 3） 按下检测型号键 key1 后，测试结果如下图 12所示。 图 12 按下检测型 键后的测试结果 从测试结果可以看出，该系统能够实现对常用的 74 系 列逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定芯片的 型号，名称，逻辑表达式，是否能够正常工作。 操作简单，测试结果准确率高。 21 总结 此次毕业设计是 我 大学 四年中最为系统的一次 ， 它有效的把所学的专业知识与实际结合起来。 在 硬件电路 中较有难度的 单数 数码管显示 单元 和 测试插座的控制上 ， 虽然之前做实验时有 涉及到 关于数码管显示的一些 方案 ，但在 这 次所设计的电路中，由于顾及单片机 I/O口的使用情况， 最终 选取 锁存器 74HC573芯片 来 驱动控制。 当然， 使用这种方法 在节省单片机 I/O口的 同时，也为后面的编程增加了难度 ，要是选 用MAX7219驱动 8位数码管 显示 ，该硬件电路设计和编程都会变得简单些。 此外， 程序设计是本次设计的一个难点， 对 不同类型的芯片， 由于 引脚 、 功能不一，测试 程序 就得具体分析。 而我在 编程 方面的能力 又 非常欠缺，在编写程序时 显得不知所措 ，在指导老师的帮助下 和自己的努力下 ， 最终 得以顺利完成。 由于时间和能力有限， 我 此次设计 只实现了系统的基本功能，测试芯片种类比较单一，在有些地方还有待 于 改进。 例如，要增加芯片的测试种类，可以对相应的引脚分别用一个继电器来控制，实现 I/O线与电源间的自动切换 ；在显示部分，除了显示结果 简单 信息外，还可以在测试结束后，让数码管显示字符“ good”或“ bad”，结果将更加直观明了。 这次设计 使我收获颇多 ，在设计的过程中屡屡碰壁， 对我自己算是一次小小的挑战。 通过对设计方案的不断整改，电路调试运行 ，解决了问题，使我真正认识到‘知行合一’的重要性。 在以后的日子的我会逐渐加强这方面的能力，不断去提高自己。 作为一个当代大学生，仅仅学习理论知识是远远不够的，这次设计给我们提供了一次很好的理论联系实际的机会，使得我对 专业方面的基础知识 有了更深刻的 认识， 为即将走上工作岗位奠定了良好的基础。 22 致谢 大学四年的学习生活即将结束 ，这篇论文作为我在校期间学习的最后一份答卷，在这里，我要向所有 关心和帮助我的 老师和同学们 表示衷心的感谢。 在这里 尤其感谢我的指导老师 —— 罗雪莲 老师，她 在毕业设计过程中给予我极大的关心和帮助。 从 选题到开题报告， 程序的编写 设计 以及论文的完成 ， 罗 老师倾注了大量的心血。 本 论文的写作 是在 罗 老师 的 悉心 指导下完成的 ， 她为我的毕业设计 提出了许多 宝贵的 建议 和 给出了 设计思路及资料 ， 给予了细心的指导和不懈的支持。 对 我遇到的 问题， 循循善诱， 谆谆教导， 使 我 的 设计和 论文得以如期完成。 当进行方案的选取时 和 论文 的 检查 时 ， 罗 老师给 了 我的仔细检查和 指导及 改正， 使 设计 在最短的时间里 顺利完成。 罗 老师的这种无私的敬业精神和责任感，令人敬佩， 在此向尊敬的罗老师表示衷心的感谢。 也 感谢 湖南工学院 所有教导过我的老师 们 ，谢谢 您们 四年来的悉心教导与关心爱护。 时光匆匆，转眼便是毕业时节，离校日期已日趋临近，毕业论文的的完成也随之进入了尾声。 从开始题到论文的顺利完成，一直都离不开老师、同学、朋友给我热情的帮助，在这里请接受我诚挚的谢意。