勤毅电子公司电子类产品检验标准(编辑修改稿)内容摘要:

Maj 的 電容值 ,耐壓值 ,极性 與承認書及樣品一致 目視 Maj CHIP Capacitor PAD不可氧化現象。 目視 Maj ,龜裂現象。 目視 Maj 電解電容不可有破洞 ,漏液 ,變形現象 .接腳不可有氧化發黑 ,污物 ,露銅現象。 目視 Maj 2. 尺寸 ,寬度不符合承認書規格。 卡尺 Maj ,腳徑不符合承認書規格。 卡尺 Maj , 編帶不可彎曲變形。 卡尺 Maj 3. 電氣特性。 LCR Maj (Inductor): 1 外觀檢驗 BOM不相符。 目視 Maj ,廠商。 目視 Maj (DATE CODE)不得超過兩年以上。 目視 Maj ,龜裂現象。 目視 Maj CHIP Inductor PAD不可氧化現象。 目視 Maj PIN腳不可有氧化發黑 ,污物 ,露銅現象。 目視 Maj 2 尺寸 ,寬度不符合承認書規格。 卡尺 Maj ,腳徑 不符合承認書規格。 卡尺 Maj , 編帶不可彎曲變形。 卡尺 Maj 3 電氣特性。 LCR Maj。 目視 Maj (LED) 1. 外觀檢查 BOM不相符。 目視 Maj ,廠商。 目視 Maj (DATE CODE)不得超過兩年以上。 目視 Maj ,龜裂現象。 目視 Maj。 目視 Maj ,霧面與樣品不符。 目視 Maj (BIN CODE)不符合承認書規格。 目視 Maj 2. 尺寸 ,寬度 , 腳距 ,腳徑 規格與樣品不符。 卡尺 Maj。 卡尺 Maj ,編帶不可彎曲變形。 卡尺 Maj 3. 電氣特性 與樣品不符或不一致。 萬用表 / 目視 Maj 東莞勤毅 電子科技有限公司 Dongguan QINYI Electronic Technology Co.,Ltd. 文件編號 /Doc No:JPC012 日期 /Date: 版本 /Rev: 頁次 /Page: 4/6 極 體 (Delay line) 1. 外觀檢驗 BOM不相符。 目視 Maj ,廠商。 目視 Maj (DATE CODE)不得超過兩年以上。 目視 Maj ,破損。 目視 Maj。 目視 Maj PIN腳不可有變形 ,歪斜現象 ,包裝方向需一致。 目視 Maj ,破損現象。 目視 Maj PIN腳不可有氧化 ,發黑 ,臟物 ,露銅現象。 目視 Maj 2. 尺寸 ,腳距不符合規格。 卡。
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