伟众汽车spc统计过程控制培训教材(编辑修改稿)

伟众汽车spc统计过程控制培训教材(编辑修改稿)内容摘要：

不合格数 (缺陷数 )图 C 图 单位产品不合格数图 (单位缺陷数图 ) U图 控制图的选用程序 否 否 是 是 是 否 否 是 是 否 否 是 否 是 不是 是 否 是 注：本图假设测量系统已经过评价 确定要制定控制图的特性 是计量型数据吗。 性质是否是均匀或不能按子组取样，例如：化学槽液、批量油漆等 使用 XRs 图 关心的是不 合格率，即 [坏 ]零件的百分比吗。 样本容量是否恒定。 子组均值是否能方便计算。 子组容量是否大于或等于9。 使用 nP 图或 P 图 使用 P 图 使用 XR 图 使用 XR 图 使用 XR 图 关心的是不合格品数 ,即单位零件不合格数吗 ? 样本容量是否恒定 ? 使用 C 或 U图 使用U图 是否能方便计算子组的 S 值 13 并且是适用的 三、计量型数据控制图 1． 均值和极差图 （ X R 图） 在使用 X R 图前，必须做的准备：  建立适合于实施的环境：没有一个可靠环境，任何统计方法都会失效。 管理者必须提供资源（人力 和物力）支持改进措施。  定义过程：应根据有反馈的过程控制系统来理解过程。  确定作图的（待管理）特性：  顾客的需求（顾客呼声，过程何处需改进）；  当前的潜在问题区域（考虑存在的浪费或低效能的证据，如：废品、返工、过多加班、与目标值不符、以及风险区域）；  特性间关系，如：该特性难测量（如：体积），可选一个相关的易测量的特性（如：重量），一个项目的几个单独特性，如有相同变化趋势，可能用一个特性来画图就足够了。  定义测量系统：测量设备本身的准确性和精密性，必须是可预测的。  使不必要的变差最小化：在开始研究应消除不必 要的变差外部原因，避免过度调整或过度控制，过程记录表上记录所有相关事件，如：刀具更换，新的原材料批次， 如何使用均值和极差图（ X R 图） ：  收集数据  计算控制限  过程控制解释  过程能力解释 A 收集数据 选择子组大小、频率和数据 a. 子组大小：确定“合理子组”，子组变差代表短时间内零件间的变差。 在过程初期研究时，子组一般选 45 件，且仅代表单一刀具、冲头、模槽（型腔）等生产出的零件（即一个单一的过程流）。 对于所有的子组样本容量应保持不变。 b. 子组频率：在初始过程研究时，通常是连续进行分组 或子组间间隔时间很短。 当证明过程稳定受控后，可增加子组间的时间间隔（如每班两次或每小时一次等）。 c. 子组数的大小：一般情况下，零件总数不少于 100 件，子组不少于 25 组。 建立控制图及记录原始数据 使用 XS 图 14 X R 图通常由 X 图和 R 图组成，上方为 X 图，下方为 R 图，最下方有一个数据栏。 X 和 R 值为纵坐标，按时间顺序的子组为横坐标。 计算每个子组的均值（ X）和极差（ R） X= X1+X2+„ +Xn 式中 X X2„为子组内每个测量值 n n 为子组的样本容量 R=XMAXXMIN 选择控制图刻度 对于 X 图，纵坐标上的刻度值的最大值与最小值之差至少为子组均（ X）的最大值与最小值差的 2 倍。 对于 R 图，纵坐标刻度应从最低值 0 开始到最大值之间的差值，为初始阶段所遇到的最大极差（ R）的 2 倍。 将均值和极差画到控制图上。 注意：初始研究时，生产现场控制图尚未计算控制限（因无足够的数据），此时在初期操作的控制图上应清楚地标明“初始研究”字样。 B. 计算控制限 计算过程均值（ X）和平均极差（ R） X= X1+ X2+„ +Xn 式中： K 为子组的数量 k X1 和 R1 为第一个子组的均值和极差，以此类推。 R= R1+R2+„ +Rk k 计算控制限 极差的上控制限 UCLR=D4 R 极差的下控制限 LCLR=D3 R 均值的上控制限 UCLX = X+A2 R 均值的下控制限 LCL X = XA2 R 式中： D D A2 为常数，随样本容量的大小而变化，可查表得到。 当 n＜ 7 时，极差无下控制限。 在控制图上画出均值和极差的上、下控制限的控制线（虚线）。 C、过程控制解释 分析极差图上的数据点 一个或多个点超出 UCLR 线时 : — 控制限计算错误或描点描错； — 零件间变化性或分布宽度已增大 (即变坏 )，立即识别特殊原因； — 测量系统变化 (如 :不同的检验员或量具 )； 15 — 测量系统没有适当的分辩力。 有一点位于 LCLR 线以下时 (当 n≥ 7 时 )： — 控制限计算错误或描点错误； — 分布宽度变小（即变好）； — 测量系统已改变（包括数据编辑或伪造）。 连续 7 点位于平均值的上侧或连续 7 点上升，说明离散度在增大（即变坏） — 输出值的分布宽度增加，其原因可能是无规律的（如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（如：使用新的不是很一致的原材料），需要纠正。 — 测量系统改变（如：新的检验员或量具） 出现低于平均极差的链或下降链时： — 输出值分布宽度在减少（即变好）要保持下去； — 测量系统改变，不能反映过程真实性能的变化。 明显的非随机图形 验证子组内数据点总体分布的准则： 一般，大约 2/3 的点应落在控制限的中间 1/3 的区域内， 大约 1/3 的点落在其外的 2/3 区域内 识别并标注特殊原因 (极差图 ) 对于极差数据内每个特殊原因应在控制图上进行标注、分析，采取措施解决。 重新计算控制限（极差图） 在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，此时可重新计算控制限。 由于出现特殊原因而从 R 图中去掉的子组 ,也应从 X 图中去掉。 重新计算的 R 和X 值可用于重新计算极差和均值的控制限。 分析均值图上的数据点 超出控制限 UCLX或 LCLX时： 出现一点或多点超出 UCLX或 LCLX时，证明这点出现特殊原因，要分析： — 控制限计算错误或描点错误； — 过程已改变（可能是一件独立事件）或是一种趋势的一部分； — 测量系统发生改变（如：不同量具或检验员）。 连续 7 点在平均值一侧，连续 7 点上升或下降，证明过程已开始变化或有变化的趋势，要识别原因： — 过程平均值已改变，也许还在变化； — 测量系统已改变（不稳定、偏奇、灵敏度等）。 16 明显非随机图。