digital
the_fundamentals_of_digital_semiconductor_testing_chinese(编辑修改稿)
供电的器件，我们称 VSS 为 GND。 2． 测试程序 半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标。 测试程序通常分为几 个部分，如 DC 测试、功能测试、 AC 测试等。 DC 测试验证电压及电流参数；功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能操作的正确性； AC 测试用以保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。