放电
（ FID 气相色谱法 带有镍催化装置）、水分（电解法或露点法）分别采用了五种检测方法，检测过程极为烦琐。 敏化的氩离子化检测器 (AID)气相色谱仪，可以同时测定高纯氩中的 H 0 N C0、 CO CH46 种成份，完成了对于高纯氩的快速、准确分析，可以达到对高纯氩分析的要求，但这种检测器以氚源为激发能源，作为一种放射源，氚源一方面有半衰期，其能量随时间变化，导致仪器稳定性改变
键，按 F1 键弹出灰色窗口，窗口中显示出帮助指令，按 ↑ 、 ↓ 键，使手指指向需要执行的指令，按 Enter 键，系统便执行该指令。 或者按 Esc 键，退出窗口，按帮助指令提示的功能按键，也可实现相同的功能。 F1 帮助指令中有下列帮助指令功能键： L、 G、 E、 Z、 M 键功能完全与167。 621 中介绍一致。 操作也完全一致。 [、 ]两键为虚设键，无操作功能键。 P—— 打印键
、 T24管及 R R10构成过流保护电路，起限流保护作用。 由晶体管 T8~T13及电阻 R R5分组成三组电流源电路 T1 T1 T5组成镜像电流源， T10 、 T1 R4组成微电流源，故 T1R T11形成主参考支路。 第四节 二、集成运放的技术指标 Aod idodod UUA ＋ － Aod ＋ － ΔU id ＋ － ΔU od UIO 在运放的两个输入端外加一补偿电压
示波器上。 • 將正弦波改為 方波。 為何要用方波。 步驟 1. 如圖之裝置，適當調整函數產生器之頻率及示波器的時間鈕和電壓鈕。 2. 將 CHA接在電容二端，觀測電容二端電壓變化的情形。 改變頻率，看看頻率對充放電波形的影響為何。 3. 將 CHA改接在電阻二端，觀測電阻二端電壓變化的情形。 改變頻率，看看頻率對充放電波形的影響為何。 4. 選擇適當的頻率，用 CHA、
工為正極性加工。 （ g）效率因子（ Duty Factor， DF） 效率因子是指真正放電時間在一個放電週期中所佔的比例。 其公式為 DF﹦ τp/τnτpτoff 若設峰值電流為 Ip、放電脈衝電壓為 τon 、 極間電壓為 Vg，則單發放電能量 W為： （ a） 送線速度（ Wire Speed， Fw） 指線電極供應的速度。 線切割加工後的銅線一般都捨棄不 用，故不考慮電極消耗。
局部放电超声测量 电测法与超声法联合测量 以电信号为时间零点测量与超声信号的时间差 Δt 计算出放电点与传感器的距离 s=vΔt v=（ 油中 ） 1. 其他非电检测方法 ① 光检测法 透明介质 电缆芯 水介质 光电倍增管观察 ② 热检测法 严重放电 局部热效应 热电偶 测温升 ③ 放电产物分析法 分解气体 分析化学生成物 推断放程度 压 电 超 声 传 感 器 阻抗 变换 前置 放大 滤波放大
11 对比了常规检测仪器与微弱信号检测方法所能达到的最高分辨率和 SNIR， 表中的最后一行是专门从事微弱信号检测仪器生产的吉时利（ Keithley）公司的产品近年能够达到的指标。 从这些指标中可以看出微弱信号检测技术发展的大致水平。 表 11 检测的最高分辨率 检测方法 检测量 电压 /nV 电流 /nA 温度 /K 电容 /pF 微量分析 /克分子 SNIR 常规检测方法 310 10
2. 带电器件放电模型 (CDM) 带电器件通过引脚对地放电引起失效时，可用此模型 (引脚间电势差也损伤 ) 半导体器件对静电放电的敏感度 (2020B版 GJB548)— 由 器件结构、输入端静电保护电路的形式、版图设计和制造工艺所决定。 ESDS分级 静电敏感元器件的标志符号 外壳或包装上： 1级： 2级： 3级：无
l hardness 布耐內爾硬度 brinell hardness test 布氏硬度試驗 broaching 拉刀切削 bubble 膜泡 buckle 剝砂面 buckling 縱彎曲 buffing 拋光 buffing wheel 拋光布輪 中国最大的管理资料下载中心 (收集 \整理 . 部分版权归原作者所有 ) 第 15 页 共 47 页 bug 故障 bulging 撐壓加工