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jet-300windows版中文操作手冊
PF 2 3 1 Q1 30% 90% N 2 3 1 控制閘極 (gate)電壓直到夾止 , 即可量測出來 . G 1 2 S D 3 N通道增強型 MOSFET G 1 2 S D 3 G 1 2 S D 3 15 263 光耦合晶體測試方法 (MODE N)： 光耦合晶體的測試與 NPN Type電晶體的測試模式相同，其 A、 B和 G G2的設定如上圖；以下為程式樣本。 項目 零件編號